試験・分析について学ぶ

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走査型プローブ顕微鏡 (SPM)による観察

Scanning Probe Microscope

[使用機器]
走査型プローブ顕微鏡

分析の原理

試料表面の原子レベルの凹凸を微小な探針(プローブ)で走査し、大気中あるいは溶液中において、試料の三次元形状や局所的物性を高倍率で観察します。昨今、表面観察だけでなく、試料表面の各種物性を画像化することも可能になりました。

手法の特長

  • ほぼ前処理不要
  • 分離能が高い
  • 拡大能力に優れる
  • 大気中・水中でも観察できる
  • 幅広い分野で応用される