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STUDY

全反射蛍光X線分析 (TXRF)

Total Reflection X-ray Fluorescence

[使用機器]
全反射蛍光X線分析装置

分析の原理

平滑清浄な面に微量の試料を置き、その試料表面にほぼ平行、あるいは非常に低い角度でX線を照射します。X線が試料表面で全反射されることで、検出器に入射する散乱線を低減。非接触・非破壊で、試料表面に存在する金属汚染物からの蛍光X線を効率よく検出します。

手法の特長

  • 微量元素の定性・定量を行える(ppm~ppbレベル)
  • ICP・原子吸光装置に匹敵する高感度検出
  • 試料を破壊しない、薬品を使わない
  • 高速・自動分析
  • 分析にかかる所要日数と費用を削減