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CASE

SDカードの欠陥観察

[分析手法]
超音波顕微鏡による観察法
[使用機器]
超音波顕微鏡

概要

不具合があると思われるメモリーカード内部を観察し、チップが破損していないかどうかを可視化して、確認を行う必要があります。それにはX線CTシステムよりも、超音波顕微鏡を用いる方が適していますが、その後者を選択するメリットについても考察します。

方法

X線検査は透過経路でのX線吸収量の違いを精査するもので、配線や基盤といった部品形状の評価に優れます。超音波顕微鏡観察では、界面の反射波を取り出しプローブを走査して画像構築するため、X線CTでは観察の難しい界面の剥離なども観察することができます。今回超音波顕微鏡を用いてマイクロSDカードの内部を観察。

結果

反射画像を確認したところ、白く見える部分は超音波の反射が強いことを示しており、表面からの深さを考慮すると、チップの剥離等による欠陥ではないかと推察されました。