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CASE

SDカードの欠陥観察

[分析手法]
超音波顕微鏡による観察法
[使用機器]
超音波顕微鏡

概要

不具合があると思われるメモリーカード内部を観察し、チップが破損していないかどうかを可視化して、確認を行う必要があります。それにはX線CTシステムよりも、超音波顕微鏡を用いる方が適していると聞きました。後者には、どのようなメリットがあるのでしょうか?

結果

X線検査は透過経路でのX線吸収量の違いを精査するもので、配線や基盤といった部品形状の評価に優れます。超音波顕微鏡観察では、界面の反射波を取り出しプローブを走査して画像構築するため、X線CTでは観察の難しい界面の剥離なども観察できます。詳細データで白く見える部分は反射波の強さを示し、欠陥による空気層であると推察されます。